產品介紹
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DBIM上片複合量測檢查機
高精度顯微鏡量測系統:距離及角度量測
高精度雷射測厚
適用導線架、Substrate 基板
多功能複合量測功能 (上片角度、精度、銀膠厚度、Die傾斜度、側邊爬膠高度)
線型12K相機
Pixel Resolution:8.5 μm/pixel
Scan speed:≦600 mm/s
光源:150 mm 線型同軸光


高倍速測量相機
Pixel Resolution:0.35 μm/pixel
Scan speed:6.4mm×4.6mm/5 (鏡頭倍率)
光源:內同軸光源


低倍速測量相機
Pixel Resolution:1.67 μm/pixel
Scan speed:6.4mm×4.6mm/5 (鏡頭倍率)
光源:150 mm 線型同軸光


雷射測高模組
精度:1 μm
解析度:0.1 μm
Contrel Technology Co., Ltd. All Rights Reserved.
東捷關係企業
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